SIL验算

SIL验算‌是指对安全仪表功能(SIF)回路的整体安全能力进行量化评估，以验证其是否达到设计要求的过程。其主要目的是确保安全仪表系统(SIS)能够满足功能安全的要求，降低装置中的风险。

SIL验算是在设备采购前，确认SIF回路的实际配置是否满足SIL定级的要求，并根据验算的结果调整设计、采购或工厂管理制度。

SIF回路的SIL等级取决于结构约束AC、设备系统性能力SC和要求时危险失效频率PFDavg三个因素。

其中，对PFDavg的计算是三者中最为复杂和困难的，目前主流的计算方法有很多，如可靠性框图(RBD)分析法、事故树分析法(FTA)、马尔科夫模型(Markov)计算法。

SIL验算的步骤包括以下几个阶段：

‌需求分析‌：确定需要降低的风险和SIF回路的要求。

‌数据收集‌：收集仪表设备可靠性数据、检验测试间隔、表决形式等参数。

‌计算‌：使用马尔可夫模型或可靠性框图分析法进行计算，得出危险失效概率(PFD)。

‌验证‌：根据计算结果验证SIF回路是否满足SIL等级要求。

影响SIL验算结果的因素包括：

‌设备可靠性数据‌：设备的危险失效率(λ)、检验测试间隔(TI)等。

‌检验测试间隔（TI）‌：定期检验和测试的频率。

‌表决形式（MooN）‌：系统中使用的表决逻辑。

‌诊断覆盖率（DC）‌：系统中诊断功能的覆盖范围。

‌平均恢复时间（MTTR）‌：系统故障后的平均恢复时间。

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